Page 34 - 071

17

2.13 กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองกราด (Scanning electron microscope :

SEM)




กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองกราด เปนกลองจุลทรรศนที่ใชอิเล็คตรอนเปน
แหลงกําเนิดแสง เปนเครื่องมือที่ใชศึกษาลักษณะสัณฐานของวัสดุในระดับจุลภาค ซึ่งเปนรายละเอียด

ที่เล็กมากและเนื่องจากขอจํากัดของกลองจุลทรรศนแบบแสงที่มีความยาวคลื่นแสงขนาดใหญกวา


ลักษณะสัณฐานบางชนิดที่ตองการศึกษา และกําลังความสามารถในการแยกชดของกลองจุลทรรศน 
ั
่ํ

ุ
ั
ู
แบบแสงธรรมดามีคาตาใชดวตถเล็กสุดประมาณ 0.2 ไมโครเมตรและใหกําลังขยายสูงสุดไมเกิน

3000 เทา ซึ่งไมสามารถตรวจสอบรายละเอียดของวัตถุที่มีขนาดเล็กมาก ๆ ได จึงมีความจําเปนอยาง
ั
ยิ่งที่จะตองใชกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนที่มีกําลังขยายสูง มีความสามารถในการแยกชดดี เนองจากมี
ื่
ุ
ั

ความยาวคลื่นสั้นเพื่อชวยในการวเคราะหลักษณะสัณฐานของวสด โดยกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอน
ิ
5

แบบสองกราดมีกําลังขยายมากกวา 3000 เทา จน ถงระดบมากกวา 10 เทาและสามารถแจกแจง

ั
ึ
รายละเอียดของภาพ ซึ่งขึ้นกับลักษณะตัวอยางไดตั้งแต 3 ถึง 100 นาโนเมตร


ภาพที่ 2.7 แสดงสวนประกอบตางๆ ของเครื่อง SEM (Nada, 2015)

2.14 สมบัติการตานการดึง (Tensile test)

สิ่งที่สําคัญของการทดสอบสมบัติดานแรงดึงของพอลิเมอร คือ ชิ้นงานทดสอบซึ่งสวนใหญจะ
มีรูปทรง dumbbell ซึ่งจะไดจากการเตรียมชิ้นงานแบบตาง ๆ ขึ้นอยูกับประเภทของวัสด เชนกรณีที่
ุ
